原理：利用(yong)被(bei)檢(jian)測產品(pin)中的(de)不同物(wu)(wu)料(liao)受X射線照射后的(de)吸收(shou)率不同，經(jing)由探測器成像(xiang)(xiang)并(bing)轉換成圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)信息，其圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)表現為(wei)灰度(du)(du)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)，不同物(wu)(wu)料(liao)或異(yi)物(wu)(wu)的(de)灰度(du)(du)不同，通過預設的(de)算(suan)法(fa)處理及圖(tu)(tu)形圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)技術分析后將異(yi)物(wu)(wu)從被(bei)檢(jian)測的(de)產品(pin)中分離出來，泰一明X光異(yi)物(wu)(wu)檢(jian)測機，基(ji)于實時(shi)系(xi)統獨有的(de)高速處理算(suan)法(fa)，集合韓國(guo)電子(zi)工(gong)業(ye)的(de)技術基(ji)礎(chu)而研制出的(de)高性(xing)能X射線異(yi)物(wu)(wu)檢(jian)測機。