原理：利(li)用被檢(jian)(jian)測(ce)(ce)產品(pin)中(zhong)的(de)(de)不同(tong)物料受X射線照射后的(de)(de)吸收率不同(tong)，經(jing)由探(tan)測(ce)(ce)器(qi)成像(xiang)(xiang)并(bing)轉換成圖像(xiang)(xiang)信息，其圖像(xiang)(xiang)表現為灰度(du)圖像(xiang)(xiang)，不同(tong)物料或(huo)異(yi)物的(de)(de)灰度(du)不同(tong)，通過預設的(de)(de)算法(fa)處理(li)及(ji)圖形圖像(xiang)(xiang)技術分析(xi)后將異(yi)物從(cong)被檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)產品(pin)中(zhong)分離出來，泰一(yi)明(ming)X光異(yi)物檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機，基于實時系(xi)統獨有(you)的(de)(de)高速(su)處理(li)算法(fa)，集合韓(han)國電(dian)子工業的(de)(de)技術基礎而(er)研制(zhi)出的(de)(de)高性(xing)能X射線異(yi)物檢(jian)(jian)測(ce)(ce)機。