原理：利用被檢(jian)(jian)測(ce)產(chan)品中(zhong)的(de)(de)不(bu)同(tong)物(wu)(wu)(wu)料(liao)(liao)受X射(she)線照射(she)后(hou)的(de)(de)吸(xi)收率不(bu)同(tong)，經由探(tan)測(ce)器成像并(bing)轉換成圖(tu)像信(xin)息，其圖(tu)像表現(xian)為灰(hui)度(du)圖(tu)像，不(bu)同(tong)物(wu)(wu)(wu)料(liao)(liao)或異物(wu)(wu)(wu)的(de)(de)灰(hui)度(du)不(bu)同(tong)，通過預設的(de)(de)算(suan)法(fa)處理(li)及圖(tu)形圖(tu)像技(ji)術(shu)分(fen)析后(hou)將異物(wu)(wu)(wu)從(cong)被檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)產(chan)品中(zhong)分(fen)離出(chu)來，泰(tai)一(yi)明(ming)X光異物(wu)(wu)(wu)檢(jian)(jian)測(ce)機，基于實時系(xi)統(tong)獨有(you)的(de)(de)高(gao)(gao)速處理(li)算(suan)法(fa)，集合韓(han)國電(dian)子工業的(de)(de)技(ji)術(shu)基礎而研制出(chu)的(de)(de)高(gao)(gao)性能X射(she)線異物(wu)(wu)(wu)檢(jian)(jian)測(ce)機。